驗證係統適用於拍攝(高頻)集總參數阻抗測量儀器(即20 KHZ的檢測\u2014\u20141 GHZ頻段的R、L、C組件的電磁性質和物質財產儀器和測量工具,標準件),規定的無線電頻率(rf)還說,高頻率(傳統)量值溯源的方式集中參數對阻抗、傳輸過程和測量儀器校準方法. .
首先,計量標準。
1、高頻率集總參數阻抗的國家主要計量標準是用於檢索和保存20 KHZ - 1000 GHZ頻率阻抗值(包括複介電常數的介電材料和複數的軟磁性材料滲透率的測量設備和測量工具. .
2、(高頻)集總參數阻抗標準的測量,包括:2 1空氣介質同軸電纜阻抗基準,通過同軸電纜的阻抗值的大小和材料電磁性能理論計算得到的。
它根據反射係數的校準精度測量原理設計的高頻阻抗測量裝置。
空氣介質同軸微波阻抗是國家基準,今年它驗證係統,有利於拍攝(高頻),微波阻抗值的統一。
在(1 - 1000)MHz頻帶,技術指標:。
HP4191A精度的高頻阻抗分析儀,通過實證分析,保證高頻集總參數阻抗性能計量工作在以下:是。
頻率(1 - 1000)MHz。
反射是模擬值| f |:1.000 +(0.003 - 0.007)0 5°相位角度θ:+ 180°±;。
阻抗模值Z | |:1ΩΩ- 10 k +(0.5)%。
電容C:nf + 10 pf - 100(0.2)%;。
電感L:10 nh - 100畝H +(0.2)%。
失:tg三角洲(D)0.001到0.5 + \\ \/ - \\**,高頻集總阻抗標準。
3、集總阻抗標準包括:3 1高頻阻抗標準50Ω,0,0Ω。
他們由國家基準價值應通過直接比較方法,技術特點如下:。
50Ω:f | | 0.0025或者更少,0Ω:殘餘阻抗小於2米,0.080ΩpF。0:邊緣電容值。
這個標準用來校準高頻阻抗分析儀設計是根據電壓和電流的原理比高頻阻抗測量儀器,如高頻LCR表一般(校準仍然需要使用直流和低頻阻抗標準\\和損失由50Ω的模擬部分阻抗校正Q值、tgδ值標準設備等)3 2高頻和低頻阻抗分析儀。
這些都是商業產品精度高的阻抗測量儀器,也用作計量標準設備,精度低的阻抗標準測量工具用於校準。
以下技術指標:。
頻率:20 KHZ - 1000 MHZ;。
阻抗Z | |:1ΩΩ- 10 k +(1 - 20%);。
電容C:nf + 10 pf - 100(0.5 -20)% . .
電感L:10 nh - 1.00畝H +(0.5 -20)%。
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