射頻阻抗計量器具檢定係統
本檢定係統適用於射（高）頻集總參數阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設備和量具、標準件），規定了射頻（習慣上也稱高頻）集總參數阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。
一、計量基準器具
1、高頻集總參數阻抗的國家計量基準器具是指用於複現和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值（包括電介質材料的複數介電常數和軟磁材料的複數導磁率）的計量設備和量具。
2、射（高）頻集總參數阻抗計量基準器具包括：
2.1空氣介質同軸線阻抗基準，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性經理論計算求得。它用以校準按反射係數測量原理設計的高頻阻抗精密測量裝置。空氣介質同軸線也是微波阻抗國家基準，本檢定係統移用它，有利於射（高）頻、微波阻抗量值的統一。在（1-1000）MHz頻段，其技術指標為：
反射係數模值｜г｜：1.000±0.002； 相角：±180°±0.5°。
2.2高頻阻高頻阻抗精密測量裝置，它是利用從美國引進的HP4191A高頻阻抗分析儀，經過準確度論證分析，保證高頻集總參數阻抗量的以下計量工作性能：
頻率：（1-1000）MHz
反射係數模值｜г｜：1.000±(0.003-0.007)
相角θ：±180°±0.5°；
阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
電容C：10pF-100nF±(0.2-10)%;
電感L：10nH-100μH±（0.2-10）%
損耗：tgδ（D）0.001-0.5±<(0.002-0.05)
二、高頻集總參數阻抗標準
3、集總參數阻抗標準包括：
3.1高頻阻抗標準件50Ω，0Ω，0S。它們由國家基準通過直接比對法傳遞量值，技術特性如下：
50Ω：｜г｜≤0.0025； 0Ω：殘餘阻抗小於2mΩ； 0S：邊緣電容值0.080pF。
這些標準件用以校準按電壓電流比原理設計的高頻阻抗分析儀、高頻LCR表等通用高頻阻抗測量儀器（校準中還需使用直流以和低頻阻抗標準伯）。並由50Ω阻抗件組成模擬損耗件校準Q值、tgδ值等標準設備。
3.2高頻、低頻阻抗分析儀。這些是市售商品高準確度阻抗測量儀器，也用作計量標準設備，用以定標低準確度的阻抗標準量具。其技術指標為：
頻率：20kHz-1000MHz；
阻抗｜Z｜：1Ω-10kΩ±（1-20%）；
電容C：10pF-100nF±(0.5-20)%；
電感L：10nH-1.00μH±（0.5-20）%
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